迈克尔干涉仪是一种精密的光学仪器，最初由迈克尔逊和莫雷合作，旨在研究“以太”漂移。其工作原理是通过分振幅法产生双光束干涉，可测量长度和折射率，甚至用于研究光谱线的精细结构和标定标准米尺。要测量钠光两谱线的波长差，关键在于观察干涉条纹的反差变化。当条纹反差起伏一个周期，对应光程差的改变量就是相干长度，公式为相干长度=平均波长的平方/波长差，反之，波长差可以通过相干长度计算得出，即波长差=平均波长的平方/相干长度。