1、热发射效应：金属电子逸出功的测定通常利用的是热发射效应，即在金属表面受热时，电子能量足够克服表面势垒而逸出。如果灯丝温度过高，会导致金属表面发生蒸发，而不仅仅是电子的逸出。这可能会影响测量结果，使其不准确。2、测量准确性：如果灯丝温度过高，会导致金属表面的热蒸发加剧，进而影响到电子逸出的数量和分布。这可能会使得测得的逸出功不准确，因为电子的逸出数量和分布会直接影响测量结果。3、仪器损坏：过高的灯丝温度可能会超出仪器的承受范围，导致仪器损坏。这可能会影响实验的进行和仪器的使用寿命。因此，为了确保金属电子逸出功测定的准确性和实验的安全性，需要控制灯丝的温度不能过高。