1、全面覆盖原则全面覆盖是指被控侵权物(产品或方法)将专利权利要求中记载的技术方案的必要技术特征全部再现，被控侵权物(产品或方法)与专利独立权利要求中记载的全部必要技术特征一一对应并且相同。全面覆盖原则是专利侵权判定中的一个最基本原则。主要包括以下几种形式：(1)字面侵权又称全部技术特征覆盖，即如果被控侵权物(产品或方法)的技术特征包含了专利权利要求中记载的全部必要技术特征，则落入专利权的保护范围。(2)上位概念侵权当专利独立权利要求中记载的必要技术特征采用的是上位概念特征，而被控侵权物(产品或方法)采用的是相应的下位概念特征时，则被控侵权物(产品或方法)落入专利权的保护范围。此时，不考虑被控侵权物(产品或方法)的技术效果与专利技术是否相同