ops的提取和分析方法有哪些

来源：动视网责编：小OO 时间：2024-08-02 14:47:04

ops的提取和分析方法有哪些

2、X射线衍射（XRD）：通过照射样品表面的X射线，利用样品晶体的衍射效应来分析样品的晶体结构和晶体取向。用于分析薄膜的晶体结构，晶体取向，晶格常数等。

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导读2、X射线衍射（XRD）：通过照射样品表面的X射线，利用样品晶体的衍射效应来分析样品的晶体结构和晶体取向。用于分析薄膜的晶体结构，晶体取向，晶格常数等。

1、原子力显微镜（AFM）：通过扫描样品表面，利用探针的力与样品表面的相互作用来获取样品表面的形貌和结构信息；用于分析薄膜的表面形貌，粗糙度，晶体结构等。
2、X射线衍射（XRD）：通过照射样品表面的X射线，利用样品晶体的衍射效应来分析样品的晶体结构和晶体取向；用于分析薄膜的晶体结构，晶体取向，晶格常数等。

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2、X射线衍射（XRD）：通过照射样品表面的X射线，利用样品晶体的衍射效应来分析样品的晶体结构和晶体取向。用于分析薄膜的晶体结构，晶体取向，晶格常数等。

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