数电实验1和2

一．实验目的：

1．了解与非门的逻辑功能。

2．熟悉选用不同型号与非门的方法。

3．掌握组合逻辑电路的设计方法。

二．实验内容：

1．选用合适的与非门（74LS00、74LS10或74LS20）设计一个符合如真值表所示逻辑功能的组合逻辑电路。（用正逻辑设计）

三．预习要求：

1．了解与非门的逻辑功能，并能在不同应用场合选用不同型号的与非门。

2．了解异或门的逻辑功能。

3．掌握组合逻辑电路的设计方法。

4．思考题：

(1)与非门和异或门能不能作非门使用？ 为什么？

(2)对于与非门多余的输入端如何处理？

四．实验步骤：

1．根据与非门和异或门的逻辑功能，检测芯片的好坏。

2．化简实验内容1真值表中的函数，画出用与非门实现的逻辑电路图。

3．写出实验内容2全加器的输出函数，画出逻辑电路图。

4．在实验装置上安装电路，并进行调试以验证理论设计的正确性。

五．实验报告要求：

1．实验目的、实验内容、实验步骤、实验原理图。

2．对在实验过程中所发现的问题进行分析和讨论。

3．回答思考题。

附：

一．芯片的检查方法

检测芯片主要根据芯片的功能。与非门：有0出1，全1出0。异或门：

相同出0，相异出1。

例：检测LS00： 查找手册，按手册要求接好电源， 将一组门电路的两个输入端接至逻辑开关，其相应的输出端接至发光二极管显示器。两个输入分别为0，输出高电平显示器亮（电压值为3.6～4V）；两个输入同时为1，输出低电平显示器不亮（电压值为0.1～0.2V）。用此方法检查其余各组门电路。同理可检测LS86。

二．电路出错的检查方法 

    在实验过程中有很多因素会使实验结果出错。电路出错后一定要用万用表查找出错的原因，切不可将电路拆掉重接。

例：实验内容1根据真值表当输入ABCD=1101时输出F=0，即最后一级门电路的所有输入均为1。若电路出错，则出现F=1。此时用万用表测量最后一级门电路的输入，找出不为1（即电压值低于3.6V，往往会出现1～2V的电压值）的端口，沿此端口查找前一级门电路的输入，最终找出出错原因并予以纠正。

实验三  组合逻辑电路设计（二）

一. 实验目的：

1．了解四选一数据选择器的逻辑功能。

2．掌握同一逻辑功能可用不同器件实现的方法。

二．实验内容：

1．检测四选一数据选择器的逻辑功能，将结果填入下表。

三．预习要求： 

1．熟悉数据选择器的逻辑功能，掌握用数据选择器设计组合电路的方法。

2．思考题：在用数据选择器设计电路的过程中，如果选用不同的逻辑变量作为数据选择端，设计结果会怎样？

四．实验步骤：

1．根据与非门和多路选择器的功能，检测芯片的好坏。

2．根据实验内容的要求，列出输入、输出关系的真值表。

3．根据真值表化简函数，写出双四选一数据选择器的逻辑表达式。

4．在实验装置上安装、调试电路，验证理论设计是否正确。

五．实验报告要求：

1．实验报告中应包括实验目的、实验内容、实验步骤等。

2．分析实验结果，说明用与非门设计电路和用多路选择器设计电路有什么区别。

3．回答思考题。

附：

一．芯片的检查方法

检测LS153： 查找手册，按手册要求接好电源。使能端接地。将数据选择端A1A0和其中一组输入D0D1D2D3接至逻辑开关，其相应的输出接发光二极管显示器。当A1A0=00，改变D0状态相应的输出状态跟着变化，而改变D1D2D3状态相应的输出状态不会跟着变化。同样当A1A0=01，改变D1状态相应的输出状态跟着变化，而改变D0D2D3状态相应的输出状态不会跟着变化。以此类推检查其余各组。

二．电路出错的检查方法 

    在实验过程中有很多因素会使实验结果出错。电路出错后一定要用万用表查找出错的原因，切不可将电路拆掉重接。

例：当电路处于某一输入状态时，F1出错。先用万用表测量 A1A0状态，若A1A0=10，则只要检查1D2即可，与所有其它的输入端无关。沿1D2检查前级门电路的输入，找出出错原因并予以纠正。

常用TTL集成电路引脚排列图