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晶圆检测前需要建立程序吗

来源:懂视网 责编:小OO 时间:2024-11-23 21:26:45
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晶圆检测前需要建立程序吗

晶圆检测前需要建立程序。wafertest是在晶圆从晶圆厂生产出来后,切割减薄之前的测试,其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的,一般是将晶圆放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的测试点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数测试。
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导读晶圆检测前需要建立程序。wafertest是在晶圆从晶圆厂生产出来后,切割减薄之前的测试,其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的,一般是将晶圆放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的测试点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数测试。

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晶圆检测前需要建立程序。wafertest是在晶圆从晶圆厂生产出来后,切割减薄之前的测试,其设备通常是测试厂商自行开发制造或定制的,一般是将晶圆放在测试平台上,用探针探到芯片中事先确定的测试点,探针上可以通过直流电流和交流信号,可以对其进行各种电气参数测试。
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