1. 透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）是一种于1932年左右发明的高分辨率和 high magnification 的电子光学仪器。
2. TEM 使用波长短的电子束作为光源，电子束由电子枪发射，照射到极薄的试样上，透过试样的透射电子经过电磁透镜的多级放大后在荧光屏上形成图像，或者通过CCD相机进行记录。
3. TEM 的工作原理主要包括电子束的汇聚、试样的穿透、多级放大和成像。成像方式有明场、暗场和中心暗场等多种。
4. 在 TEM 成像中，单晶试样会显示出斑点状的衍射斑，多晶试样则呈现同心圆环状的衍射斑，非晶结构则通常显示为圆形。
5. TEM 在材料科学、生物学、化学等领域有着广泛的应用，可以用于观察样品的形貌、物相分析、原子结构观察、结构缺陷观察、化学成分分析以及动态过程的观察等。
6. 常见的TEM设备由电子枪、聚光镜、样品杆、物镜、中间镜、投影镜、荧光屏或CCD相机等组成。
7. 分析实例中，TC4/Ag扩散焊界面的电子显微形貌观察和结构分析可以通过TEM完成，以获得详细的界面结构和相互作用信息。
