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本评审内容表中评审的某些项目如果与评审产品的技术无关则在“结论”栏选择“免”,如果符合或不符则选择“是”或“否”。对于填“否”的项必须说明原因,否则不能通过评审。下表“结论”一栏用打勾表示选择。如果“说明”栏目写不下说明内容,可写在表格后面。
序号 | 审查内容 | 结论 | 说明 |
1 | 对芯片JTAG引脚的处理确认没有直接与电源或地相连? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
2 | 确认JTAG引脚没有按照芯片手册中“when not being used”的情况进行设置? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
3 | 对可编程器件及其他多功能器件的JTAG测试口,在设计时未复用为一般I/O? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
4 | TDI 引脚是否上拉?上拉电阻是否小于4.7K,大于1K? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
5 | TDO 引脚没有复用为I/O脚? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
6 | TMS 引脚是否上拉? 上拉电阻是否小于4.7K?当同一条菊花链上串接多个JTAG器件时,TMS的上拉电阻阻值是否适当减小?上拉电阻是否大于470欧姆? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
7 | 器件手册中若给出TCK引脚的参考电路,电路设计是否按照手册进行? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
8 | 器件手册若未给出TCK参考电路,TCK是否下拉? 下拉电阻是否小于1K?当同一条菊花链上串接多个JTAG器件时,TCK的下拉电阻阻值是否适当减小?下拉电阻是否大于330欧姆? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
9 | 器件手册若给出/TRST引脚的参考电路,电路设计是否按照手册进行? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
10 | 器件手册若未给出/TRST参考电路,/TRST是否下拉? 下拉电阻是否小于1K?当同一条菊花链上串接多个_JTAG器件时,TCK的下拉电阻阻值是否适当减小?下拉电阻是否大于330欧姆? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
11 | 对于不同工作电压的JTAG器件在构成菊花链时,是否注意了接口电平的兼容性? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
12 | 为了方便生产测试时在ICT针床上完成JTAG测试,每个JTAG信号是否都引出了ICT测试点? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
13 | 对于MPC860和MPC850等BS器件,其JTAG接口和BDM 调试口复用了部分引脚信号,是否提供了一种方法使复位配置字的D12能够处于“1”状态。 | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
14 | 如果BS器件的BSDL文件中要求器件的某些管脚在进行JTAG接口测试时处于特定的逻辑电平,则这些管脚是否按照BSDL文件中的要求已经设置成特定的逻辑电平。 | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
15 | 被测板的电源线和地线是否按规范引出到JTAG接口的电源线和地线上?在被测板的电源连接到JTAG接口的电源之前是否没有串接任何电阻? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
16 | JTAG接口的插座是否按照规范的要求进行设计? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
17 | JTAG菊花链的设计是否按照规范的要求进行设计? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
18 | 对于每一个边界扫描器件是否都能提供正确的BSDL文本? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
19 | .1在设计扫描链连接方式时,是否考虑了得到最高的TCK工作频率? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
20 | .2是否正确处理了兼容电平敏感扫描设计的BS芯片? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
21 | 是否考虑了JTAG加载Flash的方式? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
22 | 在采用JTAG加载Flash时,是否将Flash的WE信号线引出到JTAG接口上(DirectWrire方式)以缩短加载时间? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
23 | 在采用JTAG加载Flash时,如果引出了WE信号,则是否将WE信号线作上拉处理?上拉电阻是否大于1K,小于4.7K? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
24 | 在采用JTAG加载Flash时,是否考虑了省去Bootrom和PLCC插座,节省单板成本的设计方法? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
25 | 在采用JTAG加载Flash,将Bootrom和Flash合二为一时,是否考虑了Flash的数据保护问题? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
26 | .3与Flash加载相关的Flash控制引脚,是否直接或间接连接到BS器件上? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
27 | 如果存在多个BS器件控制一个Flash的情况,则是否将这些JTAG器件都连接在同一条菊花链中? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
28 | .4在采用JTAG加载Flash时,是否提供了二进制(BIN)格式的编程数据文件? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
29 | 在采用JTAG实现PLD编程时,是否提供了SVF格式的编程文件? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
30 | 在进行BS器件的USERCODE测试时,是否在BSDL文本中正确设置了用户代码? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
31 | 是否考虑了可以将电路板上的非BS器件替换成相应的BS器件以提高JTAG测试的故障覆盖率? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] | |
32 | 如果利用JTAG进行板级互连测试,是否提供了Allegro格式或者EDIF格式的网表? | 是[ ] 否[ ] 免[ ] |
1项:
2项: