统计过程控制(SPC)之均值和极差控制图中均值图判定
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责编：小OO
时间：2025-09-28 00:42:39
统计过程控制(SPC)之均值和极差控制图中均值图判定
统计过程控制（SPC）之均值和极差控制图中均值图判定定义/说明/要求/目的：漂移是指：测量仪器计量特性的慢变化。R图的中的变差的大小影响的控制线的大小，的变差与R图的变差有关。如果平均值没有得到控制，则存在特殊原因的变差。检查表：编号检查内容1数据点超出控制界限的可能原因控制界限计算错误2描点错误3过程已经改变，但同时也有可能只是一个孤立的事件4测量系统发生改变。例如：使用不同的测量量具，不同的检验员的检验5连续7点上升或下降的可能原因过程的平均值已改变6测量系统的飘移改变。说明：漂移是稳定性
导读统计过程控制（SPC）之均值和极差控制图中均值图判定定义/说明/要求/目的：漂移是指：测量仪器计量特性的慢变化。R图的中的变差的大小影响的控制线的大小，的变差与R图的变差有关。如果平均值没有得到控制，则存在特殊原因的变差。检查表：编号检查内容1数据点超出控制界限的可能原因控制界限计算错误2描点错误3过程已经改变，但同时也有可能只是一个孤立的事件4测量系统发生改变。例如：使用不同的测量量具，不同的检验员的检验5连续7点上升或下降的可能原因过程的平均值已改变6测量系统的飘移改变。说明：漂移是稳定性
统计过程控制（SPC）之均值和极差控制图中均值图判定
定义/说明/要求/目的：
漂移是指：测量仪器计量特性的慢变化。
R图的中的变差的大小影响的控制线的大小，的变差与R图的变差有关。
如果平均值没有得到控制，则存在特殊原因的变差。
检查表：
| 编号 | 检查内容 |
| 1 | 数据点超出控制界限的可能原因 | 控制界限计算错误 |
| 2 | 描点错误 |
| 3 | 过程已经改变，但同时也有可能只是一个孤立的事件 |
| 4 | 测量系统发生改变。例如：使用不同的测量量具，不同的检验员的检验 |
| 5 | 连续7点上升或下降的可能原因 | 过程的平均值已改变 |
| 6 | 测量系统的飘移改变。说明：漂移是稳定性的别名 |
| 7 | 测量系统的偏移改变 |
| 8 | 连续7点在中心线同一侧的可能原因 | 过程的均值已改变 |
| 9 | 测量系统的统计偏移已改变 |
| 10 |
| 11 | 显著多于2/3的点落在1/3的区域的可能原因 | 控制界限计算错误 |
| 12 | 描点错误 |
| 13 | 取样方法不对，可能取自两个过程 |
| 14 | 数据编辑过 |
| 15 | 显著少于2/3的点落在1/3的区域的可能原因 | 控制界限计算错误 |
| 16 | 描点错误 |
| 17 | 过程抽样方法可能有两个或两个以上的过程流 |
统计过程控制(SPC)之均值和极差控制图中均值图判定
统计过程控制（SPC）之均值和极差控制图中均值图判定定义/说明/要求/目的：漂移是指：测量仪器计量特性的慢变化。R图的中的变差的大小影响的控制线的大小，的变差与R图的变差有关。如果平均值没有得到控制，则存在特殊原因的变差。检查表：编号检查内容1数据点超出控制界限的可能原因控制界限计算错误2描点错误3过程已经改变，但同时也有可能只是一个孤立的事件4测量系统发生改变。例如：使用不同的测量量具，不同的检验员的检验5连续7点上升或下降的可能原因过程的平均值已改变6测量系统的飘移改变。说明：漂移是稳定性
