定义/说明/要求/目的：
平均值与极差（）控制图是计量控制图。
是最常用的，最基本的计量控制图。
能反映出产品或过程变化的趋势。
检查表：
| 编号 | 检查内容 | ||
| 1 | 平均值与极差控制图的使用场合 | 属于双值控制图，能够提供比较多的信息 | |
| 2 | 适用于产品批量大、加工过程稳定的情况，且每次取样数小于10，一般可取4～5 | ||
| 3 | 有利于建立过程或产品变化的连续监控机制 | ||
| 4 | 控制的对象一般为尺寸、重量、强度、硬度、成分等计量值的场合 | ||
| 5 | 控制图用于观察正态分布均值的变化 | ||
| 6 | R控制图用于观察分析各组的离散波动变化 | ||
| 7 | 控制图用于观察正态分布的变化 | ||
| 8 | 平均值与极差控制图建立步骤 | 步骤一：子组选择 | 保证每个子组内零件都是在很短时间内及其非常相似的条件下生产出来的，使子组内变差少 |
| 9 | 子组是单一的过程流生产的产品。说明：例如一个模具生产出来的 | ||
| 10 | 一般选择子组内有4～5件生产的产品组合 | ||
| 11 | 努力使子组内的变差只有普通原因 | ||
| 12 | 步骤二：子组数大小的选择 | 子组的容量保持恒定 | |
| 13 | 一般保证子组数在25组或以上 | ||
| 14 | 步骤三：子组抽样频率确定 | 在适当的时间内收集25组以上，保证子组能够反应潜在的变化 | |
| 15 | 子组必须能够反应潜在的变化，这些变化可能是换班、操作人员更换、温度趋势、材料批次等原因造成的 | ||
| 16 | 在初始阶段，通常在较短时间的间隔内收集 | ||
| 17 | 步骤四：原始数据的记录 | 一般数据表包含原始数据和图 | |
| 18 | 数据的测量时间必须记录 | ||
| 19 | 步骤五：计算子组均值和极差 | 子组均值：；n=子组的样本容量 | |
| 20 | 子组极差：（每一个子组内的测量值） | ||
| 21 | 步骤六：选择控制图的刻度 | 对于图，坐标上的刻度的最大值与最小值之差至少为子组均值最大值与最小值之差的2倍 | |
| 22 | 对于R图，刻度应从最低值为0到最大值之间的2倍 | ||
| 23 | 将R的刻度值设置为图刻度值的2倍 | ||
| 24 | 步骤七：图的控制限 | 均值中线值：；k=用于确定总均值和极差均值的子组数量平均 | |
| 25 26 | ；k=用于确定总均值和极差均值的子组数量平均 | ||
| 26 | 控制上限：，（n=5， =0.577） | ||
| 27 | 控制下限： | ||
| 28 | 步骤八：R图的控制限 | 极差中线值：；k=用于确定总均值和极差均值的子组平均数量 | |
| 29 | 控制上限：，（n=5， =2.114） | ||
| 30 | 控制下限：,（n≤6， =0） | ||
| 31 | 步骤九：绘制控制图 | 平均极差和过程均值绘制成水平实线 | |
| 32 | 图的UCL和LCL绘制成水平虚线 | ||
| 33 | 图的UCL和LCL绘制成水平虚线 | ||
| 34 | 步骤十：分析R图 | 根据判异准则进行判定 | |
| 35 | 如有异常点，则必须调查原因，并采取必要的措施 | ||
| 36 | 查明原因后，删除该组，重新计算R控制线，再次检查是否有异常的点；如果有，则应重复进行：识别—纠正—重新计算，直到消除异常点为止 | ||
| 从R图上删除的组，也应相应的从图上删除 | |||
| 37 | R图完成受控后，才可以分析图 | ||
| 38 | 步骤十一：分析图 | 根据判异准则进行判定 | |
| 39 | 如有异常点，则必须调查原因，并采取必要的措施 | ||
| 40 | 舍弃异常的组，然后重新计算控制限，再次检查是否有异常的点；如果有，则应重复进行：识别—纠正—重新计算，直到消除异常点为止 | ||
| 41 | 从图上删除的组，也应相应的从R图上删除，然后重新计算R图控制线，重新分析R图 | ||
| 42 | 重复步骤七到步骤十一，直至图和R图都受控位置 | ||
| 43 | 步骤十二：和规范进行比较 | 如果数据的分布和规范公差相比有较多的余量，计算平均值并未在公差中心，基本上也可以接受的 | |
| 44 | 确定过程是否满足顾客的需求 | ||
| 45 | 确定是否控制过严 | ||
| 46 | 步骤十三：进入日常管理管理中 | 延长控制线，进行日常的管理 | |
| 47 | 子组样本容量的变化，将对用于极差和均值图的预期的极差的均值和控制限产生影响。说明：此时，必须根据样本容量n重新计算极差和控制限，计算的基础依据旧的过程标准差和新子组容量的常数 | ||
| 48 | 将新控制限画在图上作为持续过程控制的基础，主要过程在均值和极差上保持受控，持续的控制限就可以延长用以控制未来的一段时间 | ||
| 49 | 如果有证据显示过程均值和极差（其中任一个）已经变化，应确定原因，如果变化是有理由的，可以根据现有的性能重新计算控制限 | ||
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