成品手机外观检验规范

为了规范XXX手机(直板机)外观检验方法与判定标准

二、范围

2.1 适用于成品手机(直板机)长盛泰公司的外观检验。

2.2 该作业由经过培训和考核合格的出货检验员完成。

2.3 本标准有些项目未涉及到时，应根据工程图纸、零件承认、客户的要求在本标准中加入或修正。

2.4 当本标准仍有不完善时，评判标准以签样(限度样品)为准。

三、名词解释

3.1 外观区域划分

(A) AA 面：指显示信息的区域(LENS透明区)

(B) A  面：指正常操作条件下，肉眼会直接目视到的主要部分

(包括手机外壳正反两个面，LENS非透明区，字键可视部份)

(C) B  面：指正常操作条件下，肉眼可目视到的非主要部分

(包括手机外壳的侧面，顶部，底部部份，)

(D) C  面：指正常操作条件下，肉眼无法触及的部分

(包括手机后盖被电池盖覆盖部份，没有被电池覆盖部分，电池上下盖)

(E) 外观区域划分图标

直板机图示:

3.2 缺陷等级

致命缺陷 (Critical)：有明显或潜在的危及使用安全之缺陷

主要缺陷（Major）  ：主要为性能、功能不良及可靠度不达标，零部件漏装等，且此种类型缺陷会引起客户投诉或导致维修费用增加。

次要缺陷(Minor)    ：主要为外观不良或机械性能不良，但不影响性能和可靠性的缺陷。

3.3 缺陷定义

(A) 点(dot)，含杂质(Spot)：

点的形状，测量时以其最大直径为其尺寸

(B) 不可见：

指瑕疵＜0.05mm为不可见，LENS透明区除外(依各部件材料所订定之检测距离)

(C) 同色点(Likeness Color dot)：

指颜色与部品颜色相接近的点；反之为异色点(Unlikeness Color dot)

(D) 杂质(Foreign Material)，斑点(Speck)和凹点(Pit)：

小的微粒，而非模制零件的原料，出现在零件表面(主要原因是杂质被零件表面析出)

(E) 凹痕(Dent)：

在零件表面或圆脚处出现的凹陷(通常为手工操作时产生)

(F) 气泡(Blister/Bubble)，凸点(Protrusion)：

塑料内部的隔离区使其表面产生圆形的突起

(G) 熔接线(Weld/Knit Lines)：

由于两条或更多的熔融的塑料流汇聚，而形成在零件表面的浅痕。

(H) 毛边(Burr)/飞边(Flash)：

在塑料零件的边缘或结合线处的线性突起(通常为成型不良所致)

(I) 缩水(Shrinkage/Sink Marks)：

零件表面出现凹陷的痕迹(通常为成型不良所致)

(J) 细碎划痕(Scuff Mark)：

无深度的表面痕迹或擦伤 (通常为手工操作时产成)

(K) 硬划伤(Wear & Nick & Scratch)：

硬物或锐器造成零件表面有深度的伤痕

(L) 变形(Deformation)：

制造中内部应力差异或冷却不良引起的塑料零件变形

(M) 雾斑(Haze)：

在透明产品上看起来像有云雾现象

(N) 顶白(Whitening)：

成品被顶出模具所造成之泛白及变形﹐通常发生在顶出稍的另一端(母模面)

(O) 脏污(Contamination)：

无法擦去的出现在零件表面的脏物或由于灰尘或其它微粒嵌入喷漆表面造成的污色

(P) 亮斑(Incorrect Gloss Level)：

表面光泽看起来不一致或不正确

(Q) 色差(Inconsistent Color/Chromatism)：

指实际部件颜色与承认样品颜色(色板)或色号比对超出允收值，或相同颜色组件之间的颜色配合(Colour Match)有差异

(R) 脱漆(Peeling)，褪色(Discoloration)：

油漆没能牢固地黏合在一起或附着在塑料件上

(S) 电镀不良(Plating Defect)：

一般有镀层脱落，污染等

(T) 漏印(Voids)，缺印(Flaws)：

印刷中由于杂质或其它原因造成印刷内容或字体中有未被印刷到的地方，若其缺陷大于0.3mm，则被认为有漏印；如缺陷直径小于0.3mm，则被认为是缺印

(U) 重影(Double Print)：

第一次和第二次印刷的位置不重迭

(V) 装配缝隙(Gap)：

除了设计时规定的缝隙外，由两部组件装配造成的缝隙 

(W) 段差(Mismatch)/台阶效应：

由于组件装配时配合度不良，造成的无法吻合之现象 

四、管理重点：

4.1 依据出货检验规范进行抽验作业。

4.2 检验条件

(A) 检验条件图示：

(C) 手机各个被观测面分别与水平面呈45°角，检验时一般上下左右转动在15°之内，重点观察时可反复对手机变换不同角度进行观察，避免有些缺陷在最初的角度下未被看到。

4.3 检验方法：

(A) 使用数字式光标卡尺(DIGITAL VERNIER CALIPER)

适用范围：测量尺寸(如：长度、宽度、高度、内径、外径等)

使用方法：第一次使用时要检查原点，当测量面闭合时，卡尺上LCD应显示「0:00」，否则须进行原点重设。

根据被测物的尺寸，选择内、外测量面及选择”ABS”、”INC”测量方式，直接滑动测量面，卡出所需测量的尺寸，读出LCD上显示的数值即可。

(B) 使用塞规(GAUGE BLOCK SET/厚度规)

适用范围：测量Gap缝隙大小，段差宽度

使用方法：选取要求的相应尺寸(上下限)的塞规片，如果需迭加使用时，应以最少的塞规片组合为原则选取，以选取的塞规片或其组合刚好通过为准。

(C) 点规计 (Film片)

Film片图示:

适用范围：测量瑕疵点、线或规定范围内的瑕疵数

使用方法：如果在检验时发现有可疑的瑕疵，则把点规计放到瑕疵上面，将判定标准要求的相应尺寸的圆点对准瑕疵的中心。

如果缺陷超过了圆点的边缘，这个瑕疵就被判定为缺陷。

缺陷判定图示:

(D) 对于较难测量、定量判定或感官检验(以“人”的感觉为依据)，按商定的(Agreed to)、合理的(Reasonable)来界定(Define)，一般以签样(限度样品)来作对比判定。

4.4 检验/判定标准 (以下所列项目均为一个缺陷)

(A) AA面

(B) A面：包括手机外壳正反两个面，LENS非透明区，字键可视部份

(C) B面：包括手机外壳的侧面，顶部，底部部份

(D) C面：包括手机后盖被电池盖覆盖部份，没有被电池覆盖部分，电池上下盖

(E) 电池：包括电池标签、外观、印刷

(F) 充电器：包括充电器LABEL、外观、印刷

(G) 说明书：包括印刷、页数、文字