2014-4-7-XTECH
一 测试系统包括设备
1 20A大功率精密恒流恒压电源;
2 TEC制冷控制器:TEC-10A;
3 TEC制冷片定制12706;
4 大功率散热片及风机,热端散热良好;
5 12V10A开关电源;
二 测试方案
测试系统采用热源和TEC制冷相结合,精密恒流恒压电源盒半导体整流器作为热源部分;12V10A电源、TEC-10A控制器、TEC制冷片、DS18B20、散热片作为制冷稳定控制温度的部分。结构图参加图1所示。
图1 TEC半导冷片测试方案图
使用半导体整流器作为热源,它和半导体激光器的效果非常类似,都是半导体器件,导热、散热方式雷同,如图2所示。
测试中,通过调节精密恒流恒压电源输出电流电压大小,半导体整流器上获得的热功率可任意设定,散热片散热的热阻很小,是一个非常良好的导热体。
图2 半导体整流器和半导体激光器等效图
三 测试数据
测试条件
工作电压12.5 V;环境温度: 21.5 °~22.5 °
表1:测试数据
热源电流 | 热源电压 | 热源功率 | 稳定控制温度 |
(A) | (V) | (W) | (摄氏度) |
1 | 1.62 | 1.62 | 2.875 |
2 | 1. | 3.28 | 5.6875 |
3 | 1.66 | 4.98 | 7.5 |
4 | 1.66 | 6. | 9.125 |
5 | 1.66 | 8.3 | 11.1875 |
6 | 1.66 | 9.96 | 13.5 |
7 | 1.65 | 11.55 | 16.1875 |
8 | 1.66 | 13.28 | 18.375 |
9 | 1.65 | 14.85 | 20.3125 |
10 | 1.68 | 16.8 | 21.4375 |
11 | 1. | 18.04 | 22.5 |
12 | 1. | 19.68 | 24 |
13 | 1.63 | 21.19 | 25.625 |
14 | 1.63 | 22.82 | 29.0625 |
15 | 1.63 | 24.45 | 30.5625 |
16 | 1.62 | 25.92 | 31.1875 |
17 | 1.62 | 27.54 | 33.4375 |
18 | 1.62 | 29.16 | 35.3125 |
19 | 1.62 | 30.78 | 37.4375 |
20 | 1.62 | 32.4 | 40.625 |
图3 热源功率控制温度图
四 测试可靠性分析
测试中根据采用的导热硅脂、涂抹导热硅脂的多少、环境温度变化等原因,导致测量结果会有一度至两度的误差。
五 结论
测试结果打破了市场上TEC制冷片超高制冷效果的谎言,实验意义在于指导工程师在温度控制中更加切合实际的选择TEC,减少工程师在TEC特性上的摸索时间。测试中采用了价格较为昂贵的TEC片,通过电流为6A;稳定温度为环境温度为22°时,TEC吸收热功率最大为17W;稳定温度到40°时,TEC吸收热功率最大为32W;稳定温度到5°时,TEC吸收热功率最大为3W。可见控制目标温度不同,能够吸收的热量大小不同,设定目标温度高,吸收热量高;设定目标温度低,吸收热量小。