
一、实验目的
(一)测量R-L-C串联电路电流响应的幅频特性。
(二)研究串联谐振现象及特点。
(三)研究元件参数对电路频率特性的影响。
(四)熟悉测量仪器、仪表的使用方法。
二、实验仪器设备
(一)正弦信号源(低频信号发生器)
(二)双踪示波器
(三)晶体管毫伏表
(四)电容、电感线圈、电阻板
三、预习内容
(一)阅读各项实验内容,看懂有关原理,明确实验目的。
(二)图1.1中,设外接电阻R=20,电感线圈电阻r=8,电感量L=100mH,电容C=1F,
U(f)=常数(2V)。[注:实验用电感线圈多数规格为100mH,少数有例外]。
1. 写出I(f)的表达式;
2. 求电路的谐振频率f0及谐振时的电流I0;
3. 求I(f)的通频带宽度f;
4. 电路发生谐振时, 。
(三)图1.1中,若电阻R=50,I(f)的通频带宽度f又为多少?
四、实验内容
(一)按图1.1接线(注意:示波器、晶体管毫伏表的黑色夹子为地线,应与正弦信号源共地),参照表1.1要求,完成如下实验内容:
1. 测量I(f)
先测量谐振状态下的电流I0,并记录电压UL、UC、UC-L和UR,再调整信号源频率(注意:要随时保持信号源端电压为2伏不变),使其在f0左右一个范围内变化,测量相应的电流I0。
(1)根据实验室的实际参数(R、L、L、C)重新核算f0;
(2)使正弦信号源的频率等于核算值f0,电压U=2伏左右;
(3)图1.1中,示波器Y1显示总电压u的波形,Y2显示uR(即电流i)的波形。接Y2(X)钮,置拉开位置(此时,示波器为X-Y显示,Y2为X轴通道)。在核算值f0的基础上微调信号源频率,使Y1、Y2两波形同相,此时信号源的频率即是实际f0。记录相应的UC、UL、UC-L、UR。
(4)改变信号源频率(注意电源电压U=2V保持不变),测量相应的电流I(可测量UR,通过计算得出I)。
表1.1
| C=1F R= L= f0= ∆f= | |||||||||||
| U(V) | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 | 2 |
| f(Hz) | 200 | f0() | 800 | ||||||||
| I(mA) | |||||||||||
| " >0 ui =0 <0 | |||||||||||
| UC(V) | |||||||||||
| UL(V) | |||||||||||
| UC-L(V) | |||||||||||
| UR(V) | |||||||||||
(二)更换外接电阻,使R=50,重复以上实验过程。
(三)令C=0.5F,其他参数同实验内容(一),重新实测谐振频率f0以及谐振状态下的I0、UC、UL,注意U(f0)=2V不变。
五、总结要求
(一)在同一坐标上画出实验内容(一)和(二)的I(f)曲线,比较二者异同点。
(二)总结R-L-C串联电路发生谐振时所具有的特点。
(三)以实验为依据,从谐振频率f0、品质因数Q、通频带宽度f等方面说明元件参数对电路频率特性的影响。
附录:李萨如图形法测谐振频率f0原理
由物理学可知,当一质点同时参与两个不同方向振动时,质点的位移是两个分位移的矢量和。在一般情况下,质点将在平面上作曲线运动。它的轨迹形状由两个振动的周期、振幅和相差所决定。若设两个揩振动分别在X轴和Y轴上进行,其位移方程为:
(1)
(2)
上述两方程是用参量t表示质点运动轨道的参量方程。质点的位置(x, y)随t改变。当2-1=0,即两个振动的相位相同时,将第一式除以第二式,可消去参量t,得:
(3)
因此,质点的轨迹是通过坐标原点、斜率为A2/A1的一条直线(如图1.2所示)。
在任何时刻t,质点离平衡位置的位移。其合振动也是揩振动。如果(或,周相差为时,合振动是斜率为y/x=-A2/A1的另一条直线),质点的轨迹是椭圆(或圆)。
在示波器中,由示波管阴极发射出来的电子束,同时受到两对相互垂直的偏转板(即X轴方向和y轴方向上)的电压控制,其电子运动轨迹遵循上述原理。如果将R-L-C电路中的电压u和uR(即电流i)分别加于x轴和y轴偏转板上时,若u、i同相,则示波器的显示(光点轨迹)为一条直线;若u、i不同相,则显示为一椭圆或圆。由此即可测得谐振频率f0。
